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設(shè)備名稱

設(shè)備型號(hào)

生產(chǎn)廠家

出廠日期

YJ007

SEM(掃描電子顯微鏡)

S-4700

日立Hitec

1998年

代理銷售：表面粗度測定機(jī)

SE500

日本小坂研究所

SG002

原子力顯微鏡/Atomic F..

AS-7B-L

TAKANO

1999年

JL008

傅立葉變換紅外分光光度計(jì)(FT..

Spectrum 100/200

Perkin+Elmer

2006年6月

JL007

電場放射型掃描電子顯微鏡(FE..

S-4800

日立Hitec

2004年6月

JL006

聚焦離子束加工觀察裝置(FIB)

FB-2100

日立Hitec

2004年6月

JL005

段差測定裝置（觸針式膜厚測定）

FP-20AB

東朋Technologies

2003年10月

JL004

凹凸檢查裝置

OLS-FP

島津製作所

2001-5-1

JL003

反射率測定裝置

Multi+Spec-1500

島津製作所

2000-11-1

JL002

光學(xué)式膜厚計(jì)

VL-M1800-S

三洋貿(mào)易、K-MAC

1994-10-1

JL001

大型液晶基板外觀檢查顯微鏡/I..

MHL-520MS

Olympus

1994-10-1

YJ018

光阻膠膜厚測定器

TMD17

Spectra+Co-op

1999年

YJ016

段差計(jì)

FP-20BH

TOHO

2004年

YJ004

分光測量機(jī)(Elipsomet..

ELLI4.5

西華産業(yè)

1998年

YJ003

圖形檢查裝置＃２

FPI-7000

日本Orbotech

2000年

YJ002

檢查臺(tái)�。＃�

NHL-530MS

Olympus㈱

1998年

YJ001

檢查臺(tái) #2

MHL-530MS

Olympus㈱

1998年1

共17項(xiàng) 25項(xiàng)/頁當(dāng)前：1/1頁首頁上一頁下一頁尾頁

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